L'infrarosso a onde corte (SWIR) costituisce una lente ottica appositamente progettata per catturare la luce infrarossa a onde corte che non è direttamente percepibile dall'occhio umano. Questa banda è abitualmente designata come luce con lunghezze d'onda che vanno da 0,9 a 1,7 micron. Il principio operativo della lente a infrarossi a onde corte dipende dalle proprietà di trasmissione del materiale per una specifica lunghezza d'onda della luce e, con l'assistenza di materiali ottici specializzati e tecnologia di rivestimento, la lente può condurre efficacemente la luce infrarossa a onde corte sopprimendo al contempo la luce visibile. luce e altre lunghezze d'onda indesiderate.
Le sue principali caratteristiche comprendono:
1. Alta trasmittanza e selettività spettrale:Le lenti SWIR utilizzano materiali ottici specializzati e tecnologia di rivestimento per ottenere un'elevata trasmittanza nella banda dell'infrarosso a onde corte (da 0,9 a 1,7 micron) e possiedono selettività spettrale, facilitando l'identificazione e la conduzione di lunghezze d'onda specifiche della luce infrarossa e l'inibizione di altre lunghezze d'onda della luce .
2. Resistenza alla corrosione chimica e stabilità termica:Il materiale e il rivestimento della lente dimostrano un'eccezionale stabilità chimica e termica e possono sostenere le prestazioni ottiche in condizioni di sbalzi di temperatura estremi e diverse circostanze ambientali.
3. Alta risoluzione e bassa distorsione:Gli obiettivi SWIR presentano caratteristiche ottiche ad alta risoluzione, bassa distorsione e risposta rapida, soddisfacendo i requisiti dell'imaging ad alta definizione.
Le lenti a infrarossi a onde corte sono ampiamente utilizzate nel campo dell'ispezione industriale. Ad esempio, nel processo di produzione dei semiconduttori, le lenti SWIR possono rilevare difetti all'interno dei wafer di silicio che sono difficili da rilevare alla luce visibile. La tecnologia di imaging a infrarossi a onde corte può aumentare la precisione e l'efficienza dell'ispezione dei wafer, riducendo così i costi di produzione e migliorando la qualità del prodotto.
Le lenti a infrarossi a onde corte svolgono un ruolo fondamentale nell'ispezione dei wafer semiconduttori. Poiché la luce infrarossa a onde corte può permeare il silicio, questo attributo consente alle lenti a infrarossi a onde corte di rilevare difetti all'interno dei wafer di silicio. Ad esempio, il wafer potrebbe presentare fessure dovute allo stress residuo durante il processo di produzione e queste fessure, se non rilevate, influenzeranno direttamente la resa e il costo di produzione del chip IC finale completato. Sfruttando le lenti a infrarossi a onde corte, tali difetti possono essere individuati in modo efficace, promuovendo così l'efficienza produttiva e la qualità del prodotto.
Nelle applicazioni pratiche, le lenti a infrarossi a onde corte possono fornire immagini ad alto contrasto, rendendo ben visibili anche i più piccoli difetti. L'applicazione di questa tecnologia di rilevamento non solo migliora la precisione del rilevamento ma riduce anche i costi e i tempi del rilevamento manuale. Secondo il rapporto di ricerche di mercato, la domanda di lenti a infrarossi a onde corte nel mercato del rilevamento di semiconduttori è in aumento di anno in anno e si prevede che manterrà una traiettoria di crescita stabile nei prossimi anni.
Orario di pubblicazione: 18 novembre 2024