La tecnologia a infrarossi a onde corte (SWIR) è una lente ottica specificamente progettata per catturare la luce infrarossa a onde corte, non direttamente percepibile dall'occhio umano. Questa banda è comunemente definita come luce con lunghezze d'onda comprese tra 0,9 e 1,7 micron. Il principio di funzionamento della lente a infrarossi a onde corte si basa sulle proprietà di trasmissione del materiale per una specifica lunghezza d'onda della luce e, con l'ausilio di materiali ottici specializzati e di una tecnologia di rivestimento specifica, la lente può condurre efficacemente la luce infrarossa a onde corte, sopprimendo al contempo la luce visibile e altre lunghezze d'onda indesiderate.
Le sue caratteristiche principali comprendono:
1. Elevata trasmittanza e selettività spettrale:Le lenti SWIR impiegano materiali ottici specializzati e tecnologie di rivestimento per ottenere un'elevata trasmittanza nella banda degli infrarossi a onde corte (da 0,9 a 1,7 micron) e possiedono selettività spettrale, facilitando l'identificazione e la conduzione di lunghezze d'onda specifiche della luce infrarossa e l'inibizione di altre lunghezze d'onda della luce.
2. Resistenza alla corrosione chimica e stabilità termica:Il materiale e il rivestimento della lente dimostrano un'eccezionale stabilità chimica e termica e possono mantenere le prestazioni ottiche anche in caso di variazioni estreme di temperatura e in diverse circostanze ambientali.
3. Alta risoluzione e bassa distorsione:Le lenti SWIR presentano caratteristiche ottiche di elevata risoluzione, bassa distorsione e risposta rapida, soddisfacendo i requisiti dell'imaging ad alta definizione.
Le lenti a infrarossi a onde corte sono ampiamente utilizzate nel campo dell'ispezione industriale. Ad esempio, nel processo di produzione dei semiconduttori, le lenti SWIR possono rilevare difetti all'interno dei wafer di silicio, difficili da individuare con la luce visibile. La tecnologia di imaging a infrarossi a onde corte può aumentare la precisione e l'efficienza dell'ispezione dei wafer, riducendo così i costi di produzione e migliorando la qualità del prodotto.
Le lenti a infrarossi a onde corte svolgono un ruolo fondamentale nell'ispezione dei wafer di semiconduttori. Poiché la luce infrarossa a onde corte può permeare il silicio, questa caratteristica consente alle lenti a infrarossi a onde corte di rilevare difetti all'interno dei wafer di silicio. Ad esempio, il wafer potrebbe presentare fessure dovute a stress residuo durante il processo di produzione e queste fessure, se non rilevate, influenzeranno direttamente la resa e i costi di produzione del chip IC finale. Sfruttando le lenti a infrarossi a onde corte, tali difetti possono essere individuati efficacemente, promuovendo così l'efficienza produttiva e la qualità del prodotto.
Nelle applicazioni pratiche, le lenti a infrarossi a onde corte possono fornire immagini ad alto contrasto, rendendo visibili anche i difetti più piccoli. L'applicazione di questa tecnologia di rilevamento non solo migliora la precisione del rilevamento, ma riduce anche i costi e i tempi del rilevamento manuale. Secondo il rapporto di ricerca di mercato, la domanda di lenti a infrarossi a onde corte nel mercato del rilevamento dei semiconduttori è in aumento di anno in anno e si prevede che manterrà una traiettoria di crescita stabile nei prossimi anni.
Data di pubblicazione: 18-11-2024